摘要:采样不足造成的图像像素走样是一个计算机图形学领域长期存在的问题,寻求速度快、效果好的反走样算法是研究人员一直以来的目标.基于当前最新的形态学反走样算法,针对该算法在倾斜直线边界局部检测与重建上存在的不足,提出了边界斜率预测的形态学反走样方法.该方法利用局部直线边界斜率的信息对直线边界在全局范围内的端点位置进行预测与检验,从而重建出与实际边界更加相符的边界信息,在只增加较少计算量的情况下获得了更准确的直线边界形态.与前人的形态学反走样算法相比,所提出的方法基于全局形态学边界,能够更加准确地重建直线边界,将其应用于反走样计算中,可以进一步改善直线边界的颜色过渡,使倾斜直线边界具有更高的连续性,获得更好的反走样效果.