一种路径敏感的静态缺陷检测方法
DOI:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:

Supported by the National High-Tech Research and Development Plan of China under Grant Nos.2007AA010302, 2009AA012404 (国家高技术研究发展计划(863))


Path Sensitive Static Defect Detecting Method
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    提出一种多项式复杂度的路径敏感静态缺陷检测算法.该方法采用变量的抽象取值范围来表示属性状态条件,通过属性状态条件中的变量抽象取值范围为空来判断不可达路径.在控制流图(control flow graph,简称CFG)中的汇合节点上合并相同属性状态的状态条件,从而避免完整路径上下文分析的组合爆炸问题.该算法已应用于缺陷检测系统DTS(defect testing system).实际测试结果表明,该方法能够减少误报.

    Abstract:

    This paper presents a new path sensitive algorithm for static defect detecting running in polynomial time. In this method, property state conditions are represented by abstract domain of variables, and infeasible paths can be identified when some variables’ abstract value range is empty. This method avoids the combination explosion of full path analysis by merging the conditions of identical property state at join points in the CFG (control flow graph). This algorithm has been implemented as part of a defect testing tool called DTS (defect testing system). Practical test results show that this method can reduce false positive.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

肖庆,宫云战,杨朝红,金大海,王雅文.一种路径敏感的静态缺陷检测方法.软件学报,2010,21(2):209-217

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:2009-06-11
  • 最后修改日期:2009-12-07
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码
您是第位访问者
版权所有:中国科学院软件研究所 京ICP备05046678号-3
地址:北京市海淀区中关村南四街4号,邮政编码:100190
电话:010-62562563 传真:010-62562533 Email:jos@iscas.ac.cn
技术支持:北京勤云科技发展有限公司

京公网安备 11040202500063号